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电子产品可靠性与环境试验杂志

电子产品可靠性与环境试验杂志部级期刊

主管单位:中华人民共和国工业和信息化部  主办单位:工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)工业和信息化部电子第五研究所 (中国电子产品可靠性与环境试验研究所) (中国赛宝实验室)

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电子产品可靠性与环境试验 2008年第03期杂志 文档列表

电子产品可靠性与环境试验杂志专家论坛
实施电子装备环境工程的探讨第1-5页
关键词: 电子装备;  环境工程;  环境适应性;  
电子产品可靠性与环境试验杂志可靠性与环境适应性标准信息与行业动态
IBM内存型数据库 速度比传统产品快10倍第5-5页
关键词: 关系数据库;  ibm公司;  传统产品;  速度比;  内存;  电信企业;  路由器;  厂商;  
电子产品可靠性与环境试验杂志可靠性物理与失效分析技术
P—Si TFTs带间隧穿电流的建模研究第6-8页
关键词: 多晶硅薄膜晶体管;  带间隧穿;  建模;  
新型NBL改善LDMOS器件的ESD性能第9-12页
关键词: 互补型金属氧化物晶体管;  埋藏层;  静电放电;  横向扩散;  
预防性维修活动关键件的确认方法和流程第13-15页
关键词: 失效分析;  预防性维修;  关键件;  
小尺寸MOSFET SEU的准三维模拟第16-19页
关键词: 单粒子翻转;  电荷收集;  准三维模拟;  
电子产品可靠性与环境试验杂志可靠性与环境适应性标准信息与行业动态
美军方超级计算机处理速度再创世界记录第19-19页
关键词: 运算速度;  计算机处理;  世界;  超级计算机;  美军;  高速处理;  美国军方;  
电子产品可靠性与环境试验杂志可靠性物理与失效分析技术
PHEMT器件界面态分析方法综述第20-23页
关键词: 高电子迁移率场效应晶体管;  砷化镓器件;  界面态;  
电子产品可靠性与环境试验杂志可靠性与环境适应性标准信息与行业动态
IBM欲开发新型芯片冷却管 微米级别细如发丝第23-23页
关键词: ibm公司;  芯片;  开发;  发丝;  冷却管;  微米级;  微处理器;  发热量;  
电子产品可靠性与环境试验杂志可靠性物理与失效分析技术
半导体工艺新发展概述第24-27页
关键词: 半导体工艺;  应变硅;  栅介质;  铜互连;  
电子产品可靠性与环境试验杂志可靠性与环境试验技术及评价
长期存贮CCD的可靠性试验分析第28-31页
关键词: 电荷耦合器件;  外部检查;  气密性检测;  可靠性试验;  
电子产品可靠性与环境试验杂志可靠性与环境适应性标准信息与行业动态
英特尔新增高清晰视频解码器芯片组第31-31页
关键词: 视频解码器;  英特尔公司;  高清晰度;  芯片组;  图形效果;  集成显卡;  后台任务;  回放功能;  
电子产品可靠性与环境试验杂志可靠性与环境试验技术及评价
基于试验场道路试验的车用燃料电池故障分析第32-35页
关键词: 质子交换膜燃料电池;  汽车道路试验;  故障分析;  
两种可靠性统计试验方案的比较研究第36-39页
关键词: 定时截尾试验;  序贯截尾试验;  可靠性;  统计试验方案;  
电子产品可靠性与环境试验杂志可靠性与环境适应性标准信息与行业动态
美研制成全球最快计算机 相当于10万台笔记本电脑第43-43页
关键词: 超级计算机;  笔记本电脑;  洛斯阿拉莫斯;  运算性能;  国家实验室;  实验室研制;  ibm;  利弗莫尔;