电子产品可靠性与环境试验杂志部级期刊

电子产品可靠性与环境试验 2009年第B10期杂志 文档列表

Recent Development in Reliability Physics and Failure Analysis第1-4页

关键词: 电子产品；  可靠性分析；  物理学；  半导体；  

FIB的工作原理及其应用第4-10页

关键词: 聚焦离子束；  电路修改；  刻蚀气体；  沉积气体；  

芯片剥层技术在集成电路失效分析中的应用第10-14页

关键词: 失效分析；  钝化层；  金属化层；  层间介质；  剥层技术；  

提高能谱仪定量分析准确度的探讨第14-21页

关键词: 加速电压；  过压比；  出射角；  工作距离；  误差；  定量结果；  

氦质谱细检漏国军标的修改方案第21-32页

关键词: 氦质谱；  细检漏；  国军标；  修改方案；  

电子元器件的失效模型与可靠性试验方法浅析第33-38页

关键词: 失效模型；  环境试验；  可靠性试验；  

加速寿命试验中修正阿伦尼斯加速因子的研究第38-42页

关键词: 加速寿命试验；  加速因子；  arrhenius；  中修；  环境应力筛选；  寿命模型；  温度应力；  物理意义；  

基于概率选择模型的多失效模式可靠性建模分析第43-47页

关键词: 概率选择模型；  多失效模式；  可靠性建模；  

电子元器件快速评价新方法的应用研究第47-57页

关键词: 快速评价方法；  电子元器件；  可靠性参数；  应用；  失效机理；  样品试验；  寿命分布；  敏感参数；  

表贴元器件常见的失效模式及机理分析第57-60页

关键词: 表贴元器件；  表贴电阻；  独石陶瓷电容器；  玻封表贴二极管；  失效机理；  

航天产品长期贮存失效分析研究第61-66页

关键词: 导弹；  贮存；  失效模式；  

国产半导体器件长期贮存试验研究第66-69页

关键词: 长期贮存；  可靠性；  失效率；  hfe变化率；  可焊性；  水汽含量；  

国产晶体管的长期贮存可靠性第69-72页

关键词: 晶体管；  长期贮存；  可靠性；  

用加速试验评估器件长期贮存寿命的研究第72-75页

关键词: 加速试验模型；  长期贮存；  寿命；  

高可靠应用的塑封微电路升级筛选和鉴定的探讨第76-80页

关键词: 塑封微电路；  高可靠应用；  dpa；  筛选；  鉴定；